ICタグに登下校パターン蓄積・分析:いじめ兆候把握システム開発

 『読売新聞』によると、「児童にICタグを携行させ、ICタグから学校のパソコンに情報を送出・記録することで児童の登下校傾向を分析し、通常のパターンから外れた場合に知らせることでいじめ発見の兆候とする」というシステムを、福岡市南区のシステム開発会社が開発したということです。

 この会社の社長自身も子ども時代にいじめを受けた経験があり、自らの経験がシステム開発につながっているということです。ICタグで登下校や校内での所在を把握するシステム大阪教育大学附属池田小学校など各地で開発されていますが、登下校のデータを蓄積して分析するシステムは初めてだということです。システムは9月から、福岡県粕屋町立粕谷中央小学校で試験運用するということです。
 いじめ撲滅や早期発見、また登下校時の安全確保は極めて重要なことです。ICタグという角度からの研究は、決して否定するものではありません。一方で、一歩やり方を間違えると児童への過剰な管理につながる恐れもあります。いじめ発見と過剰管理の回避を両立する工夫という点も、同時に研究されなければならないと感じます。

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